傳統(tǒng)的缺點檢測軟件是選用點陣圖畫比照技能(P2P),檢測需要很高的原始圖畫清晰度,即光學圖畫收集設(shè)備的清晰度決議設(shè)備全體功能,直接形成使用該類技能的設(shè)備本錢高企和功能欠安,而且無法滿意實際出產(chǎn)技能跨越式開展的需要。為此歐威科技提出了由六大新算法即亞像素概括獲取、CAM材料概括獲取、準確對位算法、區(qū)域取舍和變形、邊際配準、缺點分類和過濾的亞像素概括比對概念,并成功使用于新式設(shè)備之中。亞像素概括比對技能可以優(yōu)化原始圖畫獲取質(zhì)量,準確判別圖形圖畫邊際概括,簡化最小邏輯斷定單元像素需要,將原始50μm的收集圖畫清晰度,優(yōu)化到30微米的超細等級。
在該商品研制中,獲2項發(fā)明和4項實用新式專利,4項軟件著作權(quán),并獲科技部中小公司立異基金贊助和榮獲2012年度溫州市科技進步一等獎。當前商品已出口俄羅斯、印度、韓國和臺灣等國家和地區(qū),近幾年完成產(chǎn)量過億元。
印刷電路板(簡稱PCB)是拼裝電子零件用的基板,PCB板的制作質(zhì)量直接影響電子商品的可靠性,因而PCB被譽為“現(xiàn)代電子工業(yè)之母”。跟著電子拼裝向更高密度、更小尺度的PCB混合技能的縱深開展,只是依托傳統(tǒng)功用測驗和人工目視的查看檢測手段,已無法滿意現(xiàn)代PCB工業(yè)規(guī)?;霎a(chǎn)的需要。當前,通常PCB的一次成品率仍徜徉在60%到70%之間,為削減進入下步工序的缺點電路板的數(shù)量,對PCB檢測中的關(guān)鍵設(shè)備——主動光學檢測(AOI)體系的需要也越來越大。